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非接觸粗糙度測量儀主要應(yīng)用于：油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導體、特種材料表面粗糙度測量等。
產(chǎn)品型號：PZ-30LS
瀏覽量：1595
材料表面3D輪廓儀具有專業(yè)的測量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機快又安全，維護成本更低。
產(chǎn)品型號：瀏覽量：1325
白光干涉3D形貌測量儀具有專業(yè)的測量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機快又安全，維護成本更低。
產(chǎn)品型號：PZ-WLI-150瀏覽量：1347
三維光學形貌儀具有3D測量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機快又安全，維護成本更低。
產(chǎn)品型號：PZ-WLI-150瀏覽量：1460
納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量系統(tǒng)基于白光干涉儀原理、結(jié)合Z向精密壓電掃描模塊和三維重建算法準確獲 得各種精密器件和材料表面形貌數(shù)據(jù)，適用于反 射率0.05%-100%、超光滑至粗糙等多種表面測量求，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級精度測量、重構(gòu)表面形 貌3D輪廓。
產(chǎn)品型號：PZ-Mico D瀏覽量：1841
全自動高精度2.5次元影像儀被廣泛用于液晶面板、導電粒子、PCB板、TP、TFT、手機配件、精密模具、刀具、齒輪、五金產(chǎn)品、端子、螺絲、彈簧、電子產(chǎn)品、連接器、鐘表、電線、沖壓產(chǎn)品、塑膠產(chǎn)品、汽車配件、醫(yī)療器械、航天航空、高等院校、科研院所等領(lǐng)域。
產(chǎn)品型號：PZ-3020C瀏覽量：2096
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