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三維光學(xué)形貌儀具有3D測量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機快又安全，維護成本更低。
產(chǎn)品型號：PZ-WLI-150
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納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量系統(tǒng)基于白光干涉儀原理、結(jié)合Z向精密壓電掃描模塊和三維重建算法準(zhǔn)確獲 得各種精密器件和材料表面形貌數(shù)據(jù)，適用于反 射率0.05%-100%、超光滑至粗糙等多種表面測量求，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級精度測量、重構(gòu)表面形 貌3D輪廓。
產(chǎn)品型號：PZ-Mico D瀏覽量：1356
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產(chǎn)品型號：PZ-3020C瀏覽量：1746
二次元投影檢測儀影像測量儀主要用于各種零件幾何尺寸的精密測量，測量精度可以達到微米級。適用于五金塑膠、模具、鐘表、PCB等各種行業(yè)。配合測量軟件，可對零件的各種幾何尺寸進行精確測量，可測量包括直線、三角形、矩形、圓、橢圓、等各種幾何形狀的尺寸大小，同時可以測量各種零件特征的形位公差，包括直線度、平行度、垂直度、圓度、圓弧度、傾斜度、位置度等.
產(chǎn)品型號：PZ-4030C瀏覽量：1842
品智創(chuàng)思APO超長半導(dǎo)體高倍測金相量顯微鏡是為檢測微波器件封裝、電子陶瓷封裝芯片、光通訊器件、TO封裝、蝶形封裝激光器、集成外腔半導(dǎo)體激光器、晶振封裝、濾波器封裝、集成電路封裝等有較高腔體產(chǎn)品檢測專業(yè)打造的，填補高倍率、高工作距離這一雙高檢測金相顯微鏡領(lǐng)域市場發(fā)展空白。不同于傳統(tǒng)的金相顯微鏡，
產(chǎn)品型號：PZ-40MT-BD瀏覽量：2126
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產(chǎn)品型號：PZ-200H瀏覽量：2295
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